無論是實驗室環境還是生產車間，都需要采用更的半導體測試方法。半導體測試是NI的戰略重點。我們正在擴展我們的軟件和PXI功能，以幫助芯片商應對他們面臨的挑戰，這一點通過NI的PXISMU可以*體現出來。"由于其高吞吐量、高性價比和占地面積小，NI的半導體測試系統(STS)正在快速應用到芯片生產中。全新的PXIe-4163SMU則進一步增強了這些功能，它能更高的直流通道密度，使多站點應用具有更高的并行性，以及在生產中實驗室級別的測量質量。給出了4051的突發功率測量功能測量某一突發信號的測量結果。4051突發功率測量如果沒有用戶定義突發信號寬度，突發脈沖寬度可以這樣得到：在捕獲的數據中找出峰值，然后找 跡上個高于閾值的位置，即為脈沖的起始點，脈沖的終點為軌跡上低于閾值的個點，平均載波功率通常由脈沖寬度和閾值計算得到